کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1493062 | 992462 | 2017 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
On the optical constants of TiO2 thin films. Ellipsometric studies
ترجمه فارسی عنوان
درباره پایه های نوری فیلم های نازک TiO2؛ مطالعات الیس فترمتریک
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
A. فیلم های نازک؛ A. اکسید؛ B. اسپری کردن؛ C. پراش اشعه ایکس؛ D. خواص نوری
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
چکیده انگلیسی
TiO2 thin films were obtained on unheated glass substrates by a DC reactive magnetron sputtering method. The as-deposited films exhibit an amorphous structure as observed from X-ray diffraction (XRD) patterns. The structure changes to a mixed one of 70% anatase and 30% rutile after heat treatment in air in the temperature range 293–673 K. Using ellipsometric measurements, and a computer to solve the corresponding equations, a modeling technique was used to find the optical constants of the studied thin films. A sensitivity analysis was performed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Research Bulletin - Volume 35, Issue 12, September 2000, Pages 2017–2025
Journal: Materials Research Bulletin - Volume 35, Issue 12, September 2000, Pages 2017–2025
نویسندگان
Diana Mardare, Alexandru Stancu,