Selecting suitable image dimensions for scanning probe microscopy

استفاده از میکروسکوپ پروب اسکن برای به دست آوردن اطلاعات توپوگرافی از سطوح با ویژگی های نانو در حال حاضر یک اتفاق معمول در تحقیقات علمی و مهندسی است. اندازه تصاویر می تواند به اندازه بزرگتر از ارتفاع ویژگی های تجزیه و تحلیل شده باشد، و اغلب در میان کیفیت تصویر و زمان کسب هماهنگی وجود دارد. این کار یک مشکل معمول در نانومواد را مورد بررسی قرار می دهد - چگونگی انتخاب یک اندازه اسکن که نماینده کل نمونه است. توپوگرافی نمونه های مختلف از جمله فلزات، پلیمرها و فیلم های ناز مورد بررسی قرار گرفته است.