کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7844917 | 1507862 | 2018 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Surface analysis of topmost layer of epitaxial layered oxide thin film: Application to delafossite oxide for oxygen evolution reaction
ترجمه فارسی عنوان
تجزیه و تحلیل سطح بالای لایه اپتیکسال لایه نازک اکسید فیلم: کاربرد به اکسید دلفوسیت برای واکنش تکامل اکسیژن
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
ساختار لایه ای، اکسید دلافوسیت، فیلم نازک، طیف سنجی پراکندگی اتمی، طیف سنجی جذب اشعه ایکس، محاسبات نظری عملکردی تراکم،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 668, February 2018, Pages 93-99
Journal: Surface Science - Volume 668, February 2018, Pages 93-99
نویسندگان
Kenji Toyoda, Hideaki Adachi, Nobuhiro Miyata, Reiko Hinogami, Yuki Orikasa, Yoshiharu Uchimoto,