آشنایی با موضوع

میکروسکوپ نیروی اتمی (به انگلیسی: atomic force microscopy) توسط کوئِیْت، بنیگ و گربر اختراع شد. مانند تمام میکروسکوپ‌های پراب پویشی دیگر، میکروسکوپ نیروی اتمی از یک پراب (probe) تیز که بر روی سطح نمونهٔ تحت بررسی حرکت می‌کند، استفاده می‌کند. از اوایل سال 1990 میکروسکوپ‌های پروبی روبشی (Scanning Probe Microscope (SPM)) برای دست‌یابی به قدرت تفکیک‌های مناسب‌تر در حد آنگستروم ابداع شدند. این میکروسکوپ‌ها علاوه بر تصویردهی از سطح مواد قابلیت بررسی خواص سطحی مواد نظیر خواص الکتریکی، مغناطیس و غیره را دارند. مانند خانواده میکروسکوپ‌های الکترونی که شامل دو زیر مجموعه عبوری و روبشی بودند، خانواده میکروسکوپ‌های پروبی روبشی نیز از زیرمجموعه‌هایی تشکیل شده‌اند که همگی آن‌ها به بررسی خواص سطحی مواد از مقیاس اتمی تا میکرونی می‌پردازند. دستگاه‌های این خانواده با استفاده از یک سوزن بسیار تیز از جنس تنگستن، نانولوله‌های کربنی و غیره، سطح را روبش کرده و بسته به نوع دستگاه خواص سطحی مورد نظر را تصویر می‌کنند. مبنای تشکیل تصویر در میکروسکوپ نیروی اتمی، نیروی بین سوزن و سطح نمونه است. در این میکروسکوپ، سطح نمونه با سوزنی تیز به طول 2 میکرومتر و قطر کمتر از 100 آنگستروم روبش می‌شود. سوزن در انتهای یک تیرک (cantilever) به طول 100 تا 200 میکرومتر قرار گرفته است. تیرک را معمولا از موادی می‌سازند که قابلیت ارتجاع بالایی داشته باشد. سر دیگر تیرک به بازوی پیزوالکتریک (پیزوالکتریک به دسته‌ای از مواد گفته می‌شود که در اثر تحریک الکتریکی از خود حرکت مکانیکی نشان می‌دهند و بلعکس. از این مواد در جابه‌جایی‌های بسیار دقیق استفاده می‌شود) متصل شده است. وقتی سوزن روی سطح نمونه کشیده می‌شود به دلیل پستی‌بلندی‌های سطح، نیرویی از طرف سطح به سوزن اعمال و موجب خمش و یا انحراف تیرک می‌شود. این انحرافات نسبت مستقیم با نیروی وارد شده به سوزن دارد. آشکارساز در این میکروسکوپ با اندازه‌گیری این انحرافات در حین روبش سطح، به رایانه این امکان را می‌دهد تا نقشه پستی بلندی‌های سطحی را تولید کند. نحوه آشکارسازی این انحرافات به دلیل ابعاد بسیار کوچک سوزن به سادگی امکان‌پذیر نیست. برای این منظور از پرتو لیزر استفاده می‌شود. بدین ترتیب که دستگاه آشکارساز با تابش پرتو لیزر بر روی سطح پشتی تیرک و ثبت مکان بازتاب آن با استفاده از آشکار ساز حساس به موقعیت، تصویر پستی بلندی‌های سطحی را ایجاد می‌کند. آشکارساز حساس به موقعیت قادر است تا تغییرات را تا اندازه یک نانومتر شناسایی کند. به منظور این که نور لیزر برخوردی به پشت تیرک به خوبی بازتاب شود معمولا پوششی از طلا و یا آلمینیوم روی آن ایجاد می‌کنند. اصول کار میکروسکوپ نیروی اتمی در شکل 2 دیده می‌شود. این میکروسکوپ قادر به بررسی نمونه‌های نارسانا، نیمه‌رسانا و رسانا است. میکروسکوپ های نیروی اتمی که برای اندازه گیری نیروهای عمودی و جانبی، طراحی شده اند، میکروسکوپ های نیروی جانبی (LFM)، یا میکروسکوپهای نیروی اصطکاکی (FFM) نامیده می شوند دسته ای از FFMها از توانایی اندازه گیری نیروهای جانبی در دو جهت متعامد برخوردارند. تعدادی از تحقیقات، طراحی های AFM و FFM را اصلاح کرده و بهبود داده است و این سیستمهای بهبود داده شده، جهت اندازه گیری چسبندگی و اصطکاک و نیروهای پیوندی در سطوح جامد و مایع در مقیاس نانو و میکرو بکار می روند. میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) به عنوان ابزاری بسیار قدرتمند برای تعیین مشخصات سطوح و مواد در مقیاس نانو توسعه یافته است. اثر رامان (پراکندگی غیرکشسان نور) اطلاعات وسیعی درباره ترکیب شیمیایی نمونه، کیفیت ساختار بلوری، جهت گیری بلور، شناسایی نقص یا ناخالصی در بلور و سایر موارد را در اختیار قرار می دهد. تلفیق AFM و رامان، یکی از آخرین روش های جفت شده تصویربرداری و تجزیه و تحلیل ترکیب شیمیایی مواد به شمار می رود. امروزه، رامان/ AFM به عنوان ابزار ارزشمندی برای زیست شناسان، شیمی دانان، شرکت های داروسازی، طراحان مواد جدید به خصوص در نانوفناوری مورد استفاده قرار می گیرد تا رابطه بین اطلاعات شیمیایی و خواص فیزیکی نظیر خواص مکانیکی، الکتریکی، مغناطیسی و توزیع فاز مشخص شود.

در این صفحه تعداد 5955 مقاله تخصصی درباره میکروسکوپ نیروی اتمی که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI میکروسکوپ نیروی اتمی (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Antireflection; Silica; Porous coating; Acid-catalyzed; Sol-gel; AFM; atomic force microscopy; AR; antireflective; BEMA; Bruggeman effective medium approximation; CPV; concentrated photovoltaic; DNI; direct normal irradiance; EEP; environmental ellipsomet
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; SAM; self-assembled monolayer; ATR-SEIRAS; attenuated total reflection surface-enhanced infrared absorption spectroscopy; rIgG; rabbit immunoglobulin G; G anti-rIgG; goat anti-rabbit immunoglobulin G; cyt c; cytochrome C; BSA; bovine serum albumin; NHS; N
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; LDPI-MS; laser desorption postionization mass spectrometry; VUV; vacuum ultraviolet; CNTs; carbon nanotubes; BNNTs; boron nitride nanotubes; IR; infrared; g-C3N4; graphitic carbon nitride; h-BN; hexagonal boron nitride; PALDI-MS; plasma assisted laser des
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; BMD; bone mineral density; HAP; hydroxyapatite; AFM; atomic force microscopy; CDF; cumulative distribution function; K-S test; Kolmogorov-Smirnov test; Collagen fibril; Bone; in situ elastic modulus; Atomic force microscopy; Deformation mechanism;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Fibrinogen denaturation; Atomic force microscopy; Highly oriented pyrolytic graphite; Amphiphilic oligoglycine-hydrocarbon graphite modifier;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; CPV; concentrator photovoltaic; PV; photovoltaic; LIFG; low iron float glass; TIPT; titanium isopropoxide; TEOS; tetraethyl orthosilicate; SDA; structure-directing agent; UV–Vis–NIR; ultraviolet-visible-near-infrared; BEMA; Bruggeman effective medium
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Alanine scanning; Atomic force microscopy; Flow-quartz crystal microbalance; Four-helix bundle; Phage display; Metal-binding sequence;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; AFM; atomic force microscopy; ETA; ethanolamine; ETD; ethylenediamine; FHSO; fully hydrogenated soybean oil; HCO; hydrogenated castor oil; R-diamide; diamide with cinnamic ring attached; SFFA; saturated free fatty acid; Cinnamic acid; Fully hydrogenated s
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Critical heat flux; Boiling heat transfer; Nanofluids; Wettability and porous Nano-layer; CHF; Critical heat flux; DNB; Departure from nucleate boiling; TEM; Transmission electron microscope; SEM; Scanning electron microscope; FESEM; Field emission scanni
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ نیروی اتمی; Salmonella spp.; Growth; Survival; Catfish mucus; Biofilm; Scanning electron microscopy; Food-contact surfaces; Atomic force microscopy; Contact angle;