| Article ID | Journal | Published Year | Pages | File Type |
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| 1857781 | Comptes Rendus Physique | 2014 | 5 Pages |
With the development, over the past ten years, of a new generation of electron microscopes with advanced performance, incorporating aberration correctors, monochromators, more sensitive detectors, and innovative specimen environments, quantitative measurements at the subnanometer and, in certain cases, at the unique atom level, are now accessible. However, an optimized use of these possibilities requires access to costly instruments and support by specialized trained experts. For these reasons, a national network (METSA) has been created in France with the support of CNRS and CEA in order to offer, in centres with complementary equipment and expertise, an open access to an enlarged and multidisciplinary community of academic and industrial users.
RésuméAvec le développement, au cours de la décennie passée, d'une nouvelle génération de microscopes électroniques aux performances améliorées, équipés de correcteurs d'aberrations, de monochromateurs, de détecteurs plus sensibles ou d'une gamme innovante d'environnements autour de l'échantillon, les mesures quantitatives sont désormais réalisables à l'échelle sub-nanométrique, voire à celle de l'atome individuel. Cependant, l'utilisation optimale de ces possibilités requiert l'accès à des instruments coûteux et la participation d'un personnel expert dédié. Pour ces raisons, un réseau national (METSA) a été créé en France avec le soutien du CNRS et du CEA, pour offrir, dans des centres disposant de l'équipement adapté et d'un personnel entraîné, un accès ouvert à une large communauté interdisciplinaire d'utilisateurs en provenance du monde académique aussi bien qu'industriel.
