Structural powder diffraction characterization of organometallic species: the role of complementary information

La diffraction des rayons X sur poudre (XRPD) a été employée ces dernières années comme outil structural, au-delà de ses utilisations classiques dans les analyses quantitatives, qualitatives et microstructurales. La complexité des matériaux étudiés par cette méthode a crû de manière constante, permettant la caractérisation structurale complète de systèmes moléculaires de nature organique ou organométallique. Ici, nous faisons ressortir qu'en utilisant des matériaux moléculaires modérément complexes, la capacité de la diffraction des rayons X sur poudre peut être augmentée non seulement en accroissant le flux de radiation ou la résolution instrumentale, mais aussi (et à moindre coût) en utilisant des informations complémentaires de nature expérimentale ou théorique. Pour citer cet article: N. Masciocchi, A. Sironi, C. R. Chimie 8 (2005).