Keywords: 43.50+ Y; Photon counting; False alarms; Noise in imaging system; 42.60.-v; 42.30.-d; 43.50.+y;
مقالات ISI 43.50+ Y (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Study on bias reversal readout working at suppressing low frequency noise of dc SQUID with different βc
Keywords: 43.50+ Y; SQUID; Low frequency noise; Bias reversal; Readout; 85.25.Dq; 43.50.+y; 87.57.cm;
Synchronization of Chua’s circuits with multi-scroll attractors: Application to communication
Keywords: 43.50+ Y; 05.45.+b; 43.72.+q; 43.50.+y; 89.75.−K; 05.45.GgChaos synchronization; Generalized Chua’s circuit; Multi-scroll chaotic attractor; Passivity based observers; Chaotic encryption; Secure communication
Measurement of noise associated with model transformer cores
Keywords: 43.50+ Y; 43.50.+y; 75.80.+q; 07.50.EkTransformer; Noise; Grain oriented; Step lap
Model-based quantification of EELS spectra: Treating the effect of correlated noise
Keywords: 43.50+ Y; 79.20.Uv; 82.80.Pv; 06.20.Dk; 43.50.+y; 02.50.−z; 07.05.FBCorrelated noise; Maximum likelihood; EELS quantification; Model-based quantification
Model-based quantification of EELS spectra: Including the fine structure
Keywords: 43.50+ Y; 79.20.Uv; 82.80.Pv; 06.20.Dk; 43.50.+y; 02.50.−z; 07.05.FBEELS; Fitting; Quantification; Precision; Maximum likelihood; Model
Maximum likelihood estimation of structure parameters from high resolution electron microscopy images. Part II: A practical example
Keywords: 43.50+ Y; 61.16.B; 42.30.W; 43.50.+y; General methods in microscopy; High resolution transmission electron microscopy (HRTEM); Tools; Electron microscope design and characterization; Data processing; Image processing;
Maximum likelihood estimation of structure parameters from high resolution electron microscopy images. Part I: A theoretical framework
Keywords: 43.50+ Y; 61.16.B; 42.30.W; 43.50.+y; 07.05.Fb; High-resolution transmission electron microscopy (HRTEM); Electron microscope design and characterization; Data processing/image processing;