![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Thickness-dependent electrical resistivity evolution in Fe1−xNixSb2 thin films
Keywords: B. پردازش لیزری; A. Thin films; B. Laser processing; C. Electronic transport; C. Kondo effects