Keywords: تله های فله; Dye sensitized solar cells; Doping of semiconductor; Surface traps; Bulk traps; Electron transport;
مقالات ISI تله های فله (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Effect of annealing on the sub-bandgap, defects and trapping states of ZnO nanostructures
Keywords: تله های فله; ZnO; PDS; OCVD; Bulk traps; Surface traps; Dye-sensitized solar cells;
Analysis of trap effect on reliability using the charge pumping technology in La-incorporated high-k dielectrics
Keywords: تله های فله; High-k; HfLaSiON; HfLaON; PBT stress; HC stress; Reliability; Bulk traps; Charge pumped per cycle (Qcp); Charge pumping (CP); Depth profile; Near-interface traps
Determination of bulk and interface density of states in polycrystalline silicon thin film transistors
Keywords: تله های فله; Polysilicon TFTs; Bulk traps; Interface traps
The effect of photon illumination in rapid thermal processing on the characteristics of MOS structures with ultra-thin oxides examined by substrate injection
Keywords: تله های فله; 73.40.Qv; 72.20.Jv; 73.61.Ng; Illumination; Rapid thermal processing; Hysteresis-like breakdown; Minority carrier generation; Substrate injection; Bulk traps;
Negative Bias Temperature Instability in CMOS Devices
Keywords: تله های فله; MOSFET; NBTI; interface traps; bulk traps; parameter instability; Reaction-Diffusion model; hydrogen diffusion;