Keywords: سنجش الیسومتریک; HWCVD; SiOC:H; Ellipsometric porosimetry; FTIR; XRR; SIMS; Porous ultra low-k
مقالات ISI سنجش الیسومتریک (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: سنجش الیسومتریک; Initiated chemical vapor deposition; Moisture barriers; Ellipsometric porosimetry; Nano-pore filling; Silicon dioxide;
Keywords: سنجش الیسومتریک; PE-CVD; PE-ALD; Ellipsometric porosimetry; Moisture permeation barrier layer; Nanoporosity
Probing the microporosity of low-k organosilica films: MP and t-plot methods applied to ellipsometric porosimetry data
Keywords: سنجش الیسومتریک; Low-k materials; Porous organosilica; Ellipsometric porosimetry; Molecular simulation
A comprehensive study of the reaction parameters involved in the synthesis of Silica thin films with well-ordered uni-directional mesopores
Keywords: سنجش الیسومتریک; Mesoporous materials; Thin films; Reaction parameters; Uni-directional orientation; Ellipsometric porosimetry; Surface Wettability;
Characterization of stacked sol–gel films: Comparison of results derived from scanning electron microscopy, UV–vis spectroscopy and ellipsometric porosimetry
Keywords: سنجش الیسومتریک; Sol–gel deposition; Thin films; Ellipsometric porosimetry; Titanium dioxide; Magnesium fluoride; Scanning electron microscopy
Evidence of the filling of nano-porosity in SiO2-like layers by an initiated-CVD monomer
Keywords: سنجش الیسومتریک; SiO2-like layers; Initiated-CVD; Ellipsometric porosimetry; Micro/mesoporosity filling; Multilayer moisture diffusion barrier systems
Sorption and optical properties of sol-gel thin films measured by X-Ray Reflectometry and Ellipsometric Porosimetry
Keywords: سنجش الیسومتریک; Titanium dioxide; Silicon dioxide; Sorption properties; Optical properties; Sol-gel; X-Ray Reflectometry; Ellipsometric Porosimetry;
Validity of Lorentz-Lorenz equation in porosimetry studies
Keywords: سنجش الیسومتریک; Ellipsometric porosimetry; Effective medium approximation;
Application of scatterometric porosimetry to characterize porous ultra low-k patterned layers
Keywords: سنجش الیسومتریک; Scatterometry; Ellipsometric porosimetry; Ultra low-k dielectrics; Interconnect;
Multi-solvent ellipsometric porosimetry analysis of plasma-treated porous SiOCH films
Keywords: سنجش الیسومتریک; Ellipsometric porosimetry; Ultra low-k dielectrics; Interconnects; Porous SiOCH
Determination of the Tolman length in the improved Derjaguin–Broekhoff–de Boer theory for capillary condensation of ethanol in mesoporous thin films by ellipsometric porosimetry
Keywords: سنجش الیسومتریک; Ellipsometric porosimetry; Pore size distribution; Derjaguin–Broekhoff–de Boer model; Tolman parameter; Mesoporous films
Efficiency of reducing and oxidizing ash plasmas in preventing metallic barrier diffusion into porous SiOCH
Keywords: سنجش الیسومتریک; Ashing; Low-k; Reducing; Oxidizing; RIE; Downstream; Pore sealing; Ellipsometric porosimetry
Structural study of nanoporous ultra low-k dielectrics using complementary techniques: Ellipsometric porosimetry, X-ray reflectivity and grazing incidence small-angle X-ray scattering
Keywords: سنجش الیسومتریک; 61.10.e; 61.18.j; 61.72.Dd; 61.82.Ms; 68.55.a; Porous ultra low k dielectrics; Materials for microelectronics; Structural determination; GISAXS; XRR; Ellipsometric porosimetry;
Effect of plasma treatments on a porous low-k material – Study of pore sealing
Keywords: سنجش الیسومتریک; Porous low-k material; Pore sealing; Plasma treatments; Ellipsometric porosimetry; X-ray reflectivity
Quantification of processing damage in porous low dielectric constant films
Keywords: سنجش الیسومتریک; Low-k dielectrics; Porosity; Plasma damage; Ellipsometric porosimetry