FIB, Focused Ion Beam

در این صفحه تعداد 14 مقاله تخصصی درباره که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: DI water, deionized water; FIB, focused ion beam; HF, hydrofluoric acid; LTD, low temperature degradation; SEM, scanning electron microscopy; Y-TZP, yttria-stabilized tetragonal zirconia polycrystals; 3Y-TZP, 3 mol% Y-TZPZirconia; Etching; Dental; Ageing;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: DIC, Digital Image Correlation; FIB, Focused Ion Beam; FE, Finite Element; SEM, Scanning Electron Microscope; EBSD, Electron Back Scattered DiffractionResidual stress; Focused ion beam; Digital image correlation; Error estimation; Ring core
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: AU, Arbitrary Unit; BPS, Bio Peak Series; FIB, Focused Ion Beam; FTIR, conventional Fourier Transform Infra-Red spectroscopy; DCM, Disordered Carbonaceous Matter; H-Adr, Hydroandradite; HO, Hydrothermal Oil; HRTEM, High Resolution Transmission Electron Mi
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: EDX, energy dispersive X-ray spectroscopy; EPMA, Electron Probe Microanalysis; FIB, Focused Ion Beam; FT, Fourier transform; FWHM, full-width at half maximum; LA-ICP-MS, Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry; LM, light microscopy; MA
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: AIT, ambient inclusion trail; BSE, back-scattered electrons; FIB, focused ion beam; SEM, scanning electron microscopy; STEM, scanning transmission electron microscopy; EDXS, energy dispersive X-ray spectroscopy; HAADF, high angle annular dark fieldtrace f