Keywords: فیلد های حاشیه; Circular disc; Capacitance; Dielectric constant; Fringing fields; Parallel electrode capacitor;
مقالات ISI فیلد های حاشیه (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Keywords: فیلد های حاشیه; Capacitive power sensor; Curled cantilever beam; Fringing fields; Electromagnetic model; Thermopile; Static mechanical model;
Modeling of low-damping laterally actuated electrostatic MEMS
Keywords: فیلد های حاشیه; Electrostatic actuation; Fringing fields; Lateral actuator; Lumped modeling; MEMS; Dynamics and control;
Analysis of high-k spacer on symmetric underlap DG-MOSFET with Gate Stack architecture
Keywords: فیلد های حاشیه; Gate Stack; High-k spacer; Fringing fields; Intrinsic capacitances; Channel underlap resistance
Impact of Asymmetric Dual-k Spacer in the Underlap Regions of Sub 20Â nm NMOSFET with Gate Stack
Keywords: فیلد های حاشیه; Gate Stack; Dual-k spacer; Fringing fields; ION; Intrinsic capacitances;
Threshold voltage model of junctionless cylindrical surrounding gate MOSFETs including fringing field effects
Keywords: فیلد های حاشیه; Junctionless (JL) MOSFET; Fringing fields; Threshold voltage; Cylindrical surrounding gate (CSG); Evanescent mode analysis (EMA);
Fringing field optimization of hemispherical deflector analyzers using BEM and FDM
Keywords: فیلد های حاشیه; 41.85.Qg; 41.85.Ja; Hemispherical deflector analyzers; Fringing fields; Paracentric entry; Energy resolution; First-order focusing; BEM; FDM; SIMION;
The hemispherical deflector analyser revisited: II. Electron-optical properties
Keywords: فیلد های حاشیه; 07.81.+a; Electron spectroscopy; ESCA; Hemispherical analyser; Paracentric hemispherical analyser; Fringing fields;
Design of electron energy analyzers for electron impact studies
Keywords: فیلد های حاشیه; 41.85.Ne; 41.85.QgElectron energy analyzer; Energy resolution; Fringing fields; SIMION
Theoretical investigation of the energy resolution of an ideal hemispherical deflector analyzer and its dependence on the distance from the focal plane
Keywords: فیلد های حاشیه; 07.81.+a; Electron spectroscopy; ESCA; Hemispherical analyzer; Paracentric hemispherical analyzer; Fringing fields; Position sensitive detection;