کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10364712 | 871787 | 2015 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Fast power cycling protocols implemented in an automated test bench dedicated to IGBT module ageing
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Experimental results demonstrate the flexibility of this test bench with respect to various power cycling conditions, as well as the feasibility of the proposed on-line monitoring methods.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 55, Issue 1, January 2015, Pages 81-92
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 55, Issue 1, January 2015, Pages 81-92
نویسندگان
Francois Forest, Amgad Rashed, Jean-Jacques Huselstein, Thierry Martiré, Philippe Enrici,