کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10631143 991540 2012 13 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
High resolution X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) study of K2O-SiO2 glasses: Evidence for three types of O and at least two types of Si
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
High resolution X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) study of K2O-SiO2 glasses: Evidence for three types of O and at least two types of Si
چکیده انگلیسی
► Evidence for free oxygen (O2−) in potassium silicate glasses. ► Possible evidence for two types of bridging oxygen. ► Si 2p XPS spectra resolve Q4 and Q3 species consistent with NMR studies. ► BO:NBO abundances change as function of exposure time to X-ray beam. ► More O2− in K-silicate glass than in Na-silicate glass at equivalent alkali content.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 358, Issue 2, 15 January 2012, Pages 290-302
نویسندگان
, , ,