کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
11002904 1450513 2018 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Implications of electron beam irradiation on Al/n-Si Schottky junction properties
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Implications of electron beam irradiation on Al/n-Si Schottky junction properties
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 91, Part 1, December 2018, Pages 179-184
نویسندگان
, , , , , , ,