کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1502186 | 993409 | 2007 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Direct observation of potential barrier behavior in yttrium–barium titanate observed by electrostactic force microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Electrostatic force microscopy (EFM) was used to directly probe, and thereby characterize, both the surface morphology and surface potential of semiconducting barium titanate doped with yttrium. The potential barrier developed at the grain boundaries was determined using EFM with in situ applied voltage up to 8 V. The applied voltage was mapped and the distribution of potential across the sample showed changes in regions that matched the grain boundaries, displaying a constant barrier width of 145.2 nm.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 56, Issue 6, March 2007, Pages 545–548
Journal: Scripta Materialia - Volume 56, Issue 6, March 2007, Pages 545–548
نویسندگان
S.M. Gheno, H.L. Hasegawa, P.I. Paulin Filho,