کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1535931 | 1512636 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Fringe analysis and enhanced characterization of sub-surface defects using fringe-shifted shearograms
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
A technique for fringe analysis using variance of directly fringe-shifted shearograms is demonstrated experimentally. Statistical variations in each of the fringe-shifted shearograms are calculated to obtain a contrast map which is then used to characterize sub-surface defects and mechanical loading points. The technique offers reduced computational load compared to Fourier transform-based fringe processing algorithms. The technique is implemented using both phase difference maps and interferograms. The latter allows the extension of the technique to physical (i.e., non-reconstructed) interferograms for the analysis of dynamic systems.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics Communications - Volume 285, Issues 21–22, 1 October 2012, Pages 4223–4226
Journal: Optics Communications - Volume 285, Issues 21–22, 1 October 2012, Pages 4223–4226
نویسندگان
Francesca Celine I. Catalan, Anne Margarette S. Maallo, Percival F. Almoro,