کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1537749 | 996594 | 2010 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of polarization states of surface plasmon polariton modes by Fourier-plane leakage microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We demonstrate that the polarization states of guided wave surface plasmon polariton (SPP) modes can be unambiguously identified by introducing a linear polarizer in the optical path of the light within a leakage-based microscope. We show the use of Fourier-plane leakage-based microscopy as a polarization characterization method to study the polarization states of SPP modes excited in plasmonic waveguides. Our results indicate that the inclusion of a linear polarizer provides additional image processing capabilities to leakage-based microscopes.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics Communications - Volume 283, Issue 24, 15 December 2010, Pages 5255–5260
Journal: Optics Communications - Volume 283, Issue 24, 15 December 2010, Pages 5255–5260
نویسندگان
S.P. Frisbie, C.J. Regan, A. Krishnan, C. Chesnutt, J. Ajimo, A.A. Bernussi, L. Grave de Peralta,