کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1552139 | 998169 | 2008 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Properties of brush plated CdxZn1−xTe thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی انرژی
انرژی های تجدید پذیر، توسعه پایدار و محیط زیست
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
CdxZn1−xTe (0 ⩽ x ⩽ 0.5) thin films were deposited for the first time by the brush plating technique using cadmium sulphate, zinc sulphate and tellurium dioxide precursors. The deposition current density was maintained at 100 mA cm−2. X-ray diffraction studies indicated the formation of cubic phase with (1 1 1), (2 2 0), (3 1 1) orientations. From optical absorption measurements the band gaps of the films are found to be direct. AFM studies indicate a surface roughness around 54 Å. Density of the films of different composition has been estimated. Laser Raman studies indicated CdTe like LO and TO phonons.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solar Energy - Volume 82, Issue 3, March 2008, Pages 220–225
Journal: Solar Energy - Volume 82, Issue 3, March 2008, Pages 220–225
نویسندگان
K.R. Murali,