کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1676923 | 1518093 | 2006 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
2-D hole gas with two-subband occupation in a strained Ge channel: Scattering mechanisms
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We explore the feasibility of combining the high growth rates of the Low Energy Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (LEPECVD) process with abrupt doping profiles. To this end, we compare the low-temperature magneto-transport properties of symmetrically doped and inverted Si1 − xGex heterostructures. Very high mobility has been found in the inverted structure, indicative of sharp doping profiles with negligible dopant segregation.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 508, Issues 1–2, 5 June 2006, Pages 351–354
Journal: Thin Solid Films - Volume 508, Issues 1–2, 5 June 2006, Pages 351–354
نویسندگان
Benjamin Rössner, Hans von Känel, Daniel Chrastina, Giovanni Isella, Bertram Batlogg,