کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1764684 | 1020068 | 2014 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Stochastic processes for line shapes and intensities
ترجمه فارسی عنوان
فرایندهای تصادفی برای اشکال و شدت خط
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
روند تصادفی، گسترش گسترده، شکل خط، جمعیت اتمی، آشفتگی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
علوم زمین و سیارات
علوم فضا و نجوم
چکیده انگلیسی
Stochastic processes provide flexible and fast calculations for modeling dynamical interactions between an atom and charged particles. We use a stochastic renewal process for the plasma microfield being the cause of Stark broadening. The accuracy and improvement possibilities of Lyman profiles calculations with a renewal process are analyzed by comparing to ab initio simulations for ion broadening only. Stochastic processes may also be applied to out of equilibrium plasmas. We present our first results for the effect of Langmuir waves on a line broadened by electrons only, and for the changes of atomic populations submitted to strong temperature fluctuations.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Advances in Space Research - Volume 54, Issue 7, 1 October 2014, Pages 1152–1158
Journal: Advances in Space Research - Volume 54, Issue 7, 1 October 2014, Pages 1152–1158
نویسندگان
R. Stamm, R. Hammami, I. Hannachi, H. Capes, L. Godbert-Mouret, M. Koubiti, Y. Marandet, J. Rosato,