کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
4971386 1450525 2017 9 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A high fault coverage test approach for communication channels in network on chip
ترجمه فارسی عنوان
یک رویکرد تست پوشش گسل برای کانال های ارتباطی در شبکه تراشه
کلمات کلیدی
شبکه در تراشه، آزمون ارتباطی، تشخیص گسل، موقعیت گسل، پوشش تست، پوشش گسل،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
This paper proposes a new high fault coverage test approach for short faults in Network on Chip communication channels. The proposed approach consists of a built in self-test as well as a Packet/flit Comparing Module (PCM) embedded in the network adapter and a router, respectively. The approach is mainly characterized by the fact that, the detection, location, and routing table updating processes are simultaneously carried out after which the test time is minimized. The approach with high scalability leads to 100% test coverage and 89.5% capability of diagnosing faulty channels in one round (two phases). The simulation results show that the approach hardware and time cost is optimized compared with the previous methodologies.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 75, August 2017, Pages 178-186
نویسندگان
,