کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
545779 | 1450556 | 2008 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Reliability- and process-variation aware design of integrated circuits
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We review the literature for reliability- and process-variation aware VLSI design to find that an exciting area of research/application is rapidly emerging as a core topic of IC design. Design of reliable circuits with unreliable components is a significant challenge that is likely to remain relevant for all circuit designs from now on, therefore any contribution in this field is likely to have lasting effect on the design philosophy of integrated circuits.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 48, Issues 8–9, August–September 2008, Pages 1114–1122
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 48, Issues 8–9, August–September 2008, Pages 1114–1122
نویسندگان
M. Alam,