کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
545813 | 1450556 | 2008 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Conditional time resolved photoemission for debugging ICs with intermittent faults
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Intermittently failing IC’s are difficult to debug with techniques such as time resolved photoemission (TRE), that measure internal signals, because the measurements will contain a mixture of passing and failing behaviour. In this paper, we show that by swapping 2 BNC cables on the outside of an Emiscope II TRE instrument, it becomes possible to measure separately both the passing and failing behaviour of an intermittently failing IC. We illustrate the techniques in two case studies.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 48, Issues 8–9, August–September 2008, Pages 1289–1294
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 48, Issues 8–9, August–September 2008, Pages 1289–1294
نویسندگان
Frank Zachariasse, Jan van Hassel,