کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
545821 | 1450556 | 2008 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Timing analysis of scan design integrated circuits using stimulation by an infrared diode laser in externally triggered pulsing condition
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
This paper presents a new timing analysis methodology for clock driven scan design integrated circuits, based on externally triggered pulsed laser stimulation. The laser pulse can easily be shifted to time windows of interest in reference to clock and scan pattern. It is demonstrated that the technique is able to identify the most sensitive signal condition for fault injection with a time resolution correlated to the signal switching time, offering new opportunities to failure analysis.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 48, Issues 8–9, August–September 2008, Pages 1327–1332
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 48, Issues 8–9, August–September 2008, Pages 1327–1332
نویسندگان
Tuba Kiyan, Christof Brillert, Christian Boit,