کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
545824 | 1450556 | 2008 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Layout analysis as supporting tool for failure localization: Basic principles and case studies
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
This paper will give an overview of physical failures that can occur and their effects on emission and OBIRCH analysis. These failure modes will then be correlated to the layout of a device in order to be able to estimate the root cause of a failure based on analysis techniques like emission microscopy and OBIRCH analysis. Finally, we will present case studies of successful failure localization based on layout analysis.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 48, Issues 8â9, AugustâSeptember 2008, Pages 1343-1348
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 48, Issues 8â9, AugustâSeptember 2008, Pages 1343-1348
نویسندگان
C. Hartmann, M. Wieberneit,