کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5467424 | 1398937 | 2017 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
High-throughput ion beam analysis at imec
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We describe the ion beam analysis activities at imec. Rutherford backscattering spectrometry and time of flight-energy (TOF-E) elastic recoil detection analysis are pursued to support the nano-electronics research and development. We outline the experimental set-up and we introduce a new data acquisition software platform. Finally, we illustrate the use of Rutherford backscattering spectrometry to map the thickness of a metallic thin film on a 300Â mm Si wafer.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 406, Part A, 1 September 2017, Pages 25-29
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 406, Part A, 1 September 2017, Pages 25-29
نویسندگان
J. Meersschaut, W. Vandervorst,