کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5467443 | 1398937 | 2017 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Calibration of PIXE yields using Cu as a reference
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We have evaluated a systematic deviation from unity of the relative correction factor, h, for calibration of the X-ray yields in particle induced X-ray emission (PIXE). For this, we estimated the values of h for various elements in the range 22 â¤Â Z â¤Â 79, and with Cu as a reference material. The value of h for the elements with a characteristic X-ray energy <20 keV is close to one with an accuracy of 5%. The uncertainty on the h values is comparable to the uncertainty of the ionization cross sections and fluorescence yields.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 406, Part A, 1 September 2017, Pages 115-118
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 406, Part A, 1 September 2017, Pages 115-118
نویسندگان
I. Harayama, D. Sekiba, Q. Zhao, A. Vantomme, W. Vandervorst, J. Meersschaut,