کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5467461 1398937 2017 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Application and development of ion-source technology for radiation-effects testing of electronics
ترجمه فارسی عنوان
کاربرد و توسعه فن آوری یون منبع برای آزمایش تابش الکترونیک
کلمات کلیدی
منابع یونی، اثرات تابش، شتاب دهنده ها، کوکتل های پرتو،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سطوح، پوشش‌ها و فیلم‌ها
چکیده انگلیسی
At the Accelerator Laboratory of the University of Jyväskylä (JYFL), radiation effects testing is currently performed using a K130 cyclotron and a 14 GHz ECRIS at a beam energy of 9.3 MeV/u. A new 18 GHz ECRIS, pushing the limits of the normal conducting ECR technology is under development at JYFL. The performances of existing 18 GHz ion sources have been compared, and based on this analysis, a 16.2 MeV/u beam cocktail with 1999 MeV 126Xe44+ being the most challenging component to has been chosen for development at JYFL. The properties of the suggested beam cocktail are introduced and discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 406, Part A, 1 September 2017, Pages 205-209
نویسندگان
, , , , , ,