کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6946227 1450541 2016 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Degradation of pMOSFETs due to hot electron induced punchthrough
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Degradation of pMOSFETs due to hot electron induced punchthrough
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 59, April 2016, Pages 13-17
نویسندگان
, , , , , ,