کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
734611 | 893459 | 2012 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
An experimental investigation of P-N diode electrical characteristics by soft X-ray annealing method
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠New results with high efficiency. ⺠Best ever experimental results of X-ray annealing method. ⺠Potential use for medical applications, working in the X-ray region.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics & Laser Technology - Volume 44, Issue 3, April 2012, Pages 635-639
Journal: Optics & Laser Technology - Volume 44, Issue 3, April 2012, Pages 635-639
نویسندگان
Itsara Srithanachai, Surada Ueamanapong, Amporn Poyai, Surasak Niemcharoen, Preecha P. Yupapin,