کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
734611 893459 2012 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
An experimental investigation of P-N diode electrical characteristics by soft X-ray annealing method
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
An experimental investigation of P-N diode electrical characteristics by soft X-ray annealing method
چکیده انگلیسی
► New results with high efficiency. ► Best ever experimental results of X-ray annealing method. ► Potential use for medical applications, working in the X-ray region.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics & Laser Technology - Volume 44, Issue 3, April 2012, Pages 635-639
نویسندگان
, , , , ,