کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7700852 1496825 2016 9 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Structural and frequency-dependent dielectric properties of PVP-SiO2-TMSPM hybrid thin films
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Structural and frequency-dependent dielectric properties of PVP-SiO2-TMSPM hybrid thin films
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Organic Electronics - Volume 32, May 2016, Pages 100-108
نویسندگان
, , ,