کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7904944 | 1510676 | 2018 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Detailed investigation of defect states in Erbium doped In2O3 thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Research Bulletin - Volume 99, March 2018, Pages 211-218
Journal: Materials Research Bulletin - Volume 99, March 2018, Pages 211-218
نویسندگان
Anupam Ghosh, Shyam Murli Manohar Dhar Dwivedi, Shubhro Chakrabartty, Mohamed Henini, Aniruddha Mondal,