کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7962121 1513953 2012 10 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Molecular dynamic simulation for Cu cluster deposition on Si substrate
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مکانیک محاسباتی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Molecular dynamic simulation for Cu cluster deposition on Si substrate
چکیده انگلیسی
► Incident energy is the most important factor to affect the film growth modes. ► Quasi-expitaxy growth occurs at very low incident energies. ► Substrate temperature slightly helps film mixing and sputtering. ► There is a minimum surface roughness due to the incident energy. ► Substrate temperature reduces the surface roughness.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Computational Materials Science - Volume 56, April 2012, Pages 85-94
نویسندگان
, , ,