کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8035225 | 1518048 | 2014 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Observation of feature ripening inversion effect at the percolation threshold for the growth of thin silver films
ترجمه فارسی عنوان
مشاهده اثر معکوس رسوب در آستانه نفوذ برای رشد نقاط نقره ای نازک
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
فیلم های فلزی نازک، نقره، پرکولاسیون، رفتار رشد، در موقعیت،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
The growth behavior of thin silver films on organic layers is investigated during deposition by means of simultaneous in-situ monitoring of sheet resistance and transmittance. Thermally evaporated films up to 11Â nm show a distinct percolation behavior with strong resistance drop at the percolation thickness. Additionally, evaporations are divided into a sequence of one nanometer steps. In the deposition breaks, the films exhibit a ripening effect with an inversion at the percolation thickness, by changing from an increasing to decreasing sheet resistance over time. Scanning electron micrographs suggest same ripening mechanisms for islands below the percolation thickness as for holes above.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 556, 1 April 2014, Pages 381-384
Journal: Thin Solid Films - Volume 556, 1 April 2014, Pages 381-384
نویسندگان
Frederik Nehm, Sylvio Schubert, Lars Müller-Meskamp, Karl Leo,