کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10652219 1001986 2012 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Position-controlled marker formation by helium ion microscope for aligning a TEM tomographic tilt series
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Position-controlled marker formation by helium ion microscope for aligning a TEM tomographic tilt series
چکیده انگلیسی
► Formation of markers on a TEM specimen by using a helium ion microscope. ► Because of the position controllability, the markers could be placed efficiently. ► The method facilitates the identification of the markers in the alignment process.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 43, Issue 9, September 2012, Pages 992-995
نویسندگان
, , , ,