کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10668320 | 1008353 | 2011 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Electrical and optical properties dependence on evolution of roughness and thickness of Ga:ZnO films on rough quartz substrates
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Quantitatively analyzing the data of AFM images. ⺠Obtain the values and the evolutions of the growth front parameters. ⺠The relationship of resistivity with film thickness and roughness evolution is discussed. ⺠The dependence of optical properties on thickness and roughness is investigated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface and Coatings Technology - Volume 205, Issue 11, 25 February 2011, Pages 3530-3534
Journal: Surface and Coatings Technology - Volume 205, Issue 11, 25 February 2011, Pages 3530-3534
نویسندگان
Yun-yan Liu, Shan-ying Yang, Gong-xiang Wei, Hong-sheng Song, Chuan-fu Cheng, Chen-shan Xue, Yu-zhen Yuan,