Influence of distortions of recorded diffraction patterns on strain analysis by nano-beam electron diffraction

تصاویری که در میکروسکوپ الکترونی فرستنده به دست آمده است می توانند به دلایلی مانند منعکس کننده های لنزهای سیستم تصویربرداری یا اشتباهات سیستم ضبط تصویر. این نتیجه به اشتباهات اندازه گیری شده از تصاویر تحریف شده منجر می شود. در اینجا ما در اندازه گیری و اصلاح اعوجاج های بیضی شکل از الگوهای پراکندگی گزارش می کنیم. اثر این اصلاح در اندازه گیری سوپرایز شبکه کریستالی مورد بررسی قرار گرفته است. ما نشان می دهیم که اثر اعوجاج ها کوچکتر از دقت اندازه گیری در مواردی است که فشار حاصل از تغییرات دیسک های پراکنده با توجه به موقعیت های آنها در تصاویر دریافت شده در یک منطقه مرجع محدود ناشی از نمونه به دست می آید. این را می توان با این واقعیت توضیح داد که الگوهای پراکندگی به دست آمده در ناحیه مرجع آزاد نمونه ای از نمونه به همان شیوه ای که الگوهای پراکندگی به دست آمده در منطقه تناوب مورد علاقه تحریف شده اند، تحریف می شوند. در مقابل، برای نمونه هایی که دارای منطقه مرجع آزاد بدون کرنش مانند نانوذرات یا ساختارهای نانوذرات نیستند، در حالیکه نسبت های فاصله های هواپیما را در جهت های مختلف ارزیابی می کنیم، اعوجاج ها معمولا ناچیز نیستند. علاوه بر این، دو روش برای شناسایی موقعیت های دیسک پراش مقادیر مقایسه شده است که نشان می دهد که برای نمونه هایی که جهت گیری کریستال در منطقه مورد بررسی تغییر می کند دقیقا تشخیص موقعیت های مختلف دیسک های پراکنده به طور همزمان به جای تعیین هر موقعیت دیسک به طور مستقل است.