کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
11016449 | 1777112 | 2018 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Statistical nature of hard breakdown recovery in high-κ dielectric stacks studied using ramped voltage stress
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volumes 88â90, September 2018, Pages 164-168
Journal: Microelectronics Reliability - Volumes 88â90, September 2018, Pages 164-168
نویسندگان
X. Feng, N. Raghavan, S. Mei, S. Dong, K.L. Pey, H. Wong,