دانلود رایگان مقاله ISI : پیکربندی و نقص های اتصال اکسیژن در سطوح مختلف الماس اکسید شده توسط طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون الکترونیک و اندازه گیری های طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس

Oxygen bonding configurations and defects on differently oxidized diamond surfaces studied by high resolution electron energy loss spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy measurements

Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 465, 28 January 2019, Pages 313-319

F.N. Li, R. Akhvlediani, M.K. Kuntumalla, A. Hoffman,