کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1589394 | 1001989 | 2012 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Experimental study of annular bright field (ABF) imaging using aberration-corrected scanning transmission electron microscopy (STEM)
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠ABF STEM visualizes a contrast of light elements. ⺠Experimental parameters for the method were reported. ⺠The contrast of the light elements was explained by diffraction imaging technique. ⺠The contrast of the ABF is insensitive to the sample thickness and defocus.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 43, Issue 4, March 2012, Pages 538-544
Journal: Micron - Volume 43, Issue 4, March 2012, Pages 538-544
نویسندگان
Eiji Okunishi, Hidetaka Sawada, Yukihito Kondo,