کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1589433 | 1001991 | 2011 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Pressure and scattering regime influence on the EDS profile resolution at a composite interface in environmental SEM
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Pressure and scattering regime influence on the EDS profile resolution at a composite interface in environmental SEM Pressure and scattering regime influence on the EDS profile resolution at a composite interface in environmental SEM](/preview/png/1589433.png)
چکیده انگلیسی
⺠Low vacuum mode influence on the EDS profile resolution in ESEM. ⺠Application to Al/epoxy interface for water vapor and helium gas. ⺠Quantitative evaluation of the gas impact in term of contrast and spatial resolution. ⺠Complementary approach by comparing gas impact versus pressure and scattering regime.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 42, Issue 8, December 2011, Pages 877-883
Journal: Micron - Volume 42, Issue 8, December 2011, Pages 877-883
نویسندگان
Claire Arnoult, Jean Di Martino, Lahcen Khouchaf, Valérie Toniazzo, David Ruch,