کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1589433 1001991 2011 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Pressure and scattering regime influence on the EDS profile resolution at a composite interface in environmental SEM
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Pressure and scattering regime influence on the EDS profile resolution at a composite interface in environmental SEM
چکیده انگلیسی
► Low vacuum mode influence on the EDS profile resolution in ESEM. ► Application to Al/epoxy interface for water vapor and helium gas. ► Quantitative evaluation of the gas impact in term of contrast and spatial resolution. ► Complementary approach by comparing gas impact versus pressure and scattering regime.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 42, Issue 8, December 2011, Pages 877-883
نویسندگان
, , , , ,