کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1589709 | 1002005 | 2008 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In situ lift-out: Steps to improve yield and a comparison with other FIB TEM sample preparation techniques
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Steps to improve the success yield of the in situ lift-out technique are presented. These include tapping the plinth of the system and monitoring the grounding current to check the lift-out needle is fixed to the material being removed. In addition, the relative success yields and the time to prepare a TEM lamella for the three main FIB methods are discussed and compared.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 39, Issue 8, December 2008, Pages 1325–1330
Journal: Micron - Volume 39, Issue 8, December 2008, Pages 1325–1330
نویسندگان
R.M. Langford, M. Rogers,