کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1589827 | 1002010 | 2008 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A guide on FIB preparation of samples containing stress corrosion crack tips for TEM and atom-probe analysis
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The preparation of samples containing stress corrosion crack tips for 3D atom-probe tomography and transmission electron microscopy is of ultimate importance for understanding the mechanisms controlling crack propagation. In this paper, it will be shown that a focused ion beam machine equipped with an in situ micromanipulator is an ideal tool to systematically prepare such demanding samples. The methodology is described and discussed in detail, and several results are presented to demonstrate the potential of the technique.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 39, Issue 3, April 2008, Pages 320–328
Journal: Micron - Volume 39, Issue 3, April 2008, Pages 320–328
نویسندگان
Sergio Lozano-Perez,