کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1670594 | 1008901 | 2008 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Single swift heavy ion-induced trail of discontinuous nanostructures on SiO2 surface under grazing incidence
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Some recent results concerning swift heavy ion irradiation of thin SiO2 layers on Si under normal incidence irradiation leading to the formation of nanodots at the interface between the SiO2 film and the Si substrate or at the SiO2 surface are summarized. Moreover, we report observation of discontinuous and elongated tracks at the SiO2 surface after grazing incidence irradiation of SiO2–Si structures with fast heavy ion. A characterization of these nanostructures by means of Atomic Force Microscopy (AFM) has been performed. The present results are of major importance with regard to the development of emerging nanoelectronic devices and systems.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 517, Issue 1, 3 November 2008, Pages 289–292
Journal: Thin Solid Films - Volume 517, Issue 1, 3 November 2008, Pages 289–292
نویسندگان
A.M.J.F. Carvalho, A.D. Touboul, M. Marinoni, C. Guasch, M. Ramonda, H. Lebius, F. Saigné, J. Bonnet,