کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678082 | 1009927 | 2011 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Point defect characterization in HAADF-STEM images using multivariate statistical analysis
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Multivariate analysis of HAADF-STEM images. ⺠Distinct structural variations among SrTiO3 dislocation cores. ⺠Picometer atomic column shifts correlated with atomic column population changes.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 3, February 2011, Pages 251-257
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 3, February 2011, Pages 251-257
نویسندگان
Michael C. Sarahan, Miaofang Chi, Daniel J. Masiel, Nigel D. Browning,