کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
4971103 | 1450313 | 2017 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
On the spatial resolution limit of direct-write electron beam lithography
ترجمه فارسی عنوان
در قطعنامه فضایی لیتوگرافی پرتو الکترونی مستقیم
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
لیتوگرافی پرتو الکترونی مستقیم، میکروسکوپ الکتریکی انتقال اسکن، میدان الکتریکی، رزولوشن فضایی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
Schematic drawing of the spatial resolution of EBL determined by the DIEF mechanism.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 168, 25 January 2017, Pages 41-44
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 168, 25 January 2017, Pages 41-44
نویسندگان
Nan Jiang,