کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5348422 | 1388079 | 2015 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Local structure study of GeMn recrystallization process by helium ion beam-induced epitaxial crystallization
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
In this study, GeMn thin films were fabricated by implantation of Mn ions at room temperature. Post-annealing was performed using 2Â MeV of He+ ion irradiation. The recrystallization phenomena of the GeMn thin films were analyzed by Raman scattering. High-resolution transmission electron microscopy was also used to characterize the recrystallization process before and after ion beam annealing. A structure phase transition-like behavior of the recrystallization process of GeMn thin films was observed in the Raman spectra.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 354, Part A, 1 November 2015, Pages 120-123
Journal: Applied Surface Science - Volume 354, Part A, 1 November 2015, Pages 120-123
نویسندگان
C.H. Chen, H. Niu, C.P. Lee,