کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5351775 | 1503563 | 2017 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Angle resolved XPS for selective characterization of internal and external surface of porous silicon
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 406, 1 June 2017, Pages 144-149
Journal: Applied Surface Science - Volume 406, 1 June 2017, Pages 144-149
نویسندگان
Anna Lion, Nadhira Laidani, Paolo Bettotti, Chiara Piotto, Giancarlo Pepponi, Mario Barozzi, Marina Scarpa,