کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5359804 1503705 2009 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Sn-CeO2 thin films prepared by rf magnetron sputtering: XPS and SIMS study
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Sn-CeO2 thin films prepared by rf magnetron sputtering: XPS and SIMS study
چکیده انگلیسی
Sn addition in the CeO2 thin film by simultaneous Sn metal and cerium oxide magnetron sputtering causes growth of Ce3+ rich films whilst pure cerium oxide sputtering provides stoichiometric CeO2 layers. Ce4+ → Ce3+ conversion is explained by a charge transfer from Sn atoms to unoccupied orbital Ce 4f0 of cerium oxide by forming Ce 4f1 state. XPS and SIMS revealed a formation of a new chemical Ce(Sn)+ state, which belongs to SnCeO2 species.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 255, Issues 13–14, 15 April 2009, Pages 6656-6660
نویسندگان
, , , ,